東莞市愛佩試驗設備有限公司
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半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱設備介紹：半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱是一款用于半導體材料做高溫、低溫、高低溫交變的可靠性試驗設備
半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱
設備介紹：
半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱是一款用于半導體材料做高溫、低溫、高低溫交變的可靠性試驗設備。經過
測試從而知道因溫度引起的物理效應和現象。半導體材料（semiconductor material）是一類具有半導體性能（導電能力介于導體與絕緣體之間，電阻率約在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍內）、可用來制作半導體器件和集成電路的電子材料。
符合標準
半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱具有較寬的溫度調節(jié)控制范圍，可滿足國家標準本產品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等國家標準《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法，試驗Ca：恒定濕熱試驗方法，試驗Db：交變濕熱試驗方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96國家標準制造件，并可按軍標試驗要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非標準制作各種半導體材料高低溫試驗設備。并等效滿足GJB150.9-86等相應的國標、軍標；也可按客戶的要求制造非標準產品。
半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱規(guī)格可選其一(單位:mm)
型號 AP-GD-100 內型尺寸 400×500×500 外型尺寸950×880×1470
型號 AP-GD-150 內型尺寸 500×500×600 外型尺寸985×932×1562
型號 AP-GD-250 內型尺寸 520×630×780 外型尺寸1060×997×1740
型號 AP-GD-500 內型尺寸 700×800×900 外型尺寸1182×1250×1880
型號 AP-GD-800 內型尺寸 800×1000×1000 外形尺寸 1360×1500×1950
型號AP-GD-1000 內型尺寸1000×1000×1000 外型尺寸1485×1520×2020
溫度范圍可選其一：0℃~150℃；-20℃~150℃；-40℃~150℃；-60℃~150℃；-70℃~150℃
購買半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱找東莞市愛佩試驗設備有限公司，免費送貨上門，并安裝調試操作介紹（直到需方員工獨立操作并滿意為止）
我司主打設備：高低溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、紫外老化試驗箱、氙燈老化試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、砂塵試驗箱、淋雨試驗箱、拉力試驗機、鹽水噴霧試驗箱、按鍵壽命老化試驗機、高溫試驗箱、電磁振動試驗臺、模擬運輸振動試驗臺、跌落試驗機等可靠性環(huán)境試驗設備。
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