偏光熔點測定儀 XPN-203

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更新時間：2022-09-14 11:01:03瀏覽次數(shù)：325次

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  偏光顯微鏡

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上海長方光學儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

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產(chǎn)品簡介

偏光熔點測定儀XPN-203一、用途XPN-203系列偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)的專業(yè)實驗儀器

詳細介紹

偏光熔點測定儀 XPN-203

一、用途 XPN-203 系列偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)的專業(yè)實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調(diào)節(jié)，及模糊手動調(diào)節(jié)功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值，儀表顯示
	偏光顯微鏡熱臺 XPN-203E	偏光顯微鏡熱臺 XPN-203Z
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準確、清晰、穩(wěn)定，對溫度控制可設定
程序，設有“上、下"限自動報警裝置，并可隨時檢查設定的溫度數(shù)據(jù)，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產(chǎn)品。

二、系統(tǒng)簡介

偏光熔點測定儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術(shù)、*的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、的計算機圖像處理技術(shù)地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

三、技術(shù)參數(shù)：

1.目鏡：

類別	放大倍數(shù)	視場（mm）
網(wǎng)格目鏡	10X	φ18
十字目鏡	10X	φ18
分劃目鏡	10X	φ18

2.物鏡：

類別	放大倍數(shù)	數(shù)值孔徑（NA）	工作距離（mm）	蓋玻片厚度（mm）
物鏡	4X	0.10	7.80	-
	10X	0.25	4.70	-
	25X	0.40	1.75	0.17
	40X	0.65	0.72	0.17
	63X	0.85	0.18	0.17

3.放大倍數(shù)：40X-630X 系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X。
4.聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調(diào)
5.起偏鏡：振動方向360°可調(diào)，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路，旋轉(zhuǎn)范圍90°內(nèi)置勃氏鏡，中心、焦距可調(diào)
7.補償器：λ片(φ18mm，一級紅，光程差551nm) λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級)
8.調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微調(diào)，格值為0.002mm
9.電光源：6V/20W鹵素燈（亮度可調(diào)）

四、熱臺：
1.顯微精密控溫儀
在 20X 物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環(huán)操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時間，升溫速率可調(diào)、精度±0.3 ℃、記憶點讀數(shù)。
2.顯微加熱平臺
可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1
起始溫度室溫
工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm
工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1^oC
透光區(qū)域 2mm以上，可調(diào)
顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
熱臺可以隨載物臺移動
熔點測定溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡

五、系統(tǒng)組成

電腦型偏光熱臺（XPN-203E）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3.攝像器(CCD) 4.A/D(圖像采集) 5、計算機
數(shù)碼型偏光熱臺（XPN-203Z）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數(shù)碼相機系統(tǒng)

數(shù)碼顯微成像系統(tǒng)