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上海珩澤科技有限公司
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更新時(shí)間：2025-01-13 08:48:41瀏覽次數(shù)：31次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)簡(jiǎn)要描述：Park NX7原子力顯微鏡 配有Park原子力顯微鏡前沿技術(shù)，其設(shè)計(jì)與新型顯微鏡一樣彰顯細(xì)節(jié)品質(zhì)，可以有效助您取得精準(zhǔn)的研究成果。
Park NX7原子力顯微鏡配有Park原子力顯微鏡前沿技術(shù)，其設(shè)計(jì)與新型顯微鏡一樣彰顯細(xì)節(jié)品質(zhì)，可以有效助您取得精準(zhǔn)的研究成果。
ü 獨(dú)立閉環(huán)XY和Z柔性?huà)呙杵?/span>
ü 正交XY掃描
ü 樣品表面形貌信息測(cè)量精準(zhǔn)，無(wú)需軟件處理
ü 涵蓋多種掃描探針顯微鏡的掃描模式
ü 更智能的NX電子控制器默認(rèn)啟用高級(jí)納米機(jī)械測(cè)量模式
ü 擁有業(yè)界前沿的兼容性和可升級(jí)性
ü 方便樣品或換針的開(kāi)放式使用
ü 預(yù)對(duì)準(zhǔn)的探針夾設(shè)計(jì)，可輕易直觀的進(jìn)行SLD光校準(zhǔn)
ü Park SmrtScanTM - 原子力顯微鏡操作軟件可以幫助初次使用用戶(hù)和專(zhuān)業(yè)用戶(hù)進(jìn) 行專(zhuān)業(yè)的納米級(jí)研究。
Park的核心技術(shù)在于專(zhuān)有的掃描器架構(gòu)?；讵?dú)立XY掃描器和Z掃描器設(shè)計(jì)的撓曲結(jié)構(gòu)，能讓您輕松獲得高精度納米級(jí)分辨率數(shù)據(jù)。
Park AFM 配備了低噪聲Z探測(cè)器，噪音水平低于0.02 nm,因而達(dá)到了樣品形貌成像精準(zhǔn)，沒(méi)有邊沿過(guò)沖無(wú)需校準(zhǔn)的高效率。Park NX系列不僅為您提供高精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，更為您大大節(jié)省了時(shí)間成本。
ü 利用低噪聲Z探測(cè)器信號(hào)進(jìn)行形貌成像
ü 有高寬帶，Z探測(cè)器低噪聲只有0.02 nm
ü 邊緣位置無(wú)前沿或后沿過(guò)沖現(xiàn)象
ü 只需在原廠校準(zhǔn)一次
樣品: 1.2 μm標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階高度
(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines)
柔性引導(dǎo)高推動(dòng)力掃描器
Z掃描范圍: 15 μm (30 μm可選)
閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器
掃描范圍: 50 µm × 50 µm
(可選 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)
Z位移臺(tái)行程范圍: 26 mm
XY位移臺(tái)行程范圍: 13 mm X 13 mm
樣品大小 : up to 50 mm
樣品厚度: up to 20 mm
AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集軟件
智能模式的快速設(shè)置和簡(jiǎn)易成像
手動(dòng)模式的高級(jí)使用和更精密的掃描控制
AFM數(shù)據(jù)分析軟件
獨(dú)立設(shè)計(jì)—可以安裝和分析AFM以外的數(shù)據(jù)
能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制
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