現(xiàn)場/遠程- FIB等離子束系統(tǒng)

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更新時間：2024-05-14 10:37:14瀏覽次數(shù)：115次

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產(chǎn)品簡介

設備介紹ThermoScientificHeliosG4CX顯微鏡的創(chuàng)新，結(jié)合較易使用、較全面的軟件和賽默飛世爾科技的應用專業(yè)知識，使HeliosG4CXDualBeam與可選的ASV4軟件可獲得較高質(zhì)量、全自動采集的多模態(tài)3D數(shù)據(jù)集

詳細介紹

設備介紹

Thermo Scientific™ Helios™ G4 CX 顯微鏡的創(chuàng)新，結(jié)合較易使用、較全面的軟件和賽默飛世爾科技的應用專業(yè)知識，使 Helios G4 CX DualBeam 與可選的 AS&V4 軟件可獲得較高質(zhì)量、全自動采集的多模態(tài) 3D 數(shù)據(jù)集。結(jié)合 Avizo 可視化軟件，它可提供的工作流程解決方案，實現(xiàn)納米級的分辨率、的 3D 表征和分析。

儀器型號

FEI Helios G4 CX

技術(shù)參數(shù)

放大倍率x18 - x800000
電子束加速電壓200v -30kV
電子束著陸電壓20v -30kV
電子束流0.8pA - 100nA
離子束分辨率4.0nm@30kV
離子束加速電壓500v -30kV
離子束束流0.1pA - 60nA
能譜儀分辨率優(yōu)于127eV

案例展示

應用范圍

1.納米材料形貌像分析、材料微區(qū)域EDS能譜成分分析、EBSD電子背散射衍射晶體取向分析，其廣泛應用于材料、化學化工、機械、生物、醫(yī)學等領域。
2.可用于金屬、半導體、電介質(zhì)、多層膜結(jié)構(gòu)等固體樣品上制備微納圖形結(jié)構(gòu)。高質(zhì)量定點TEM樣品制備。離子束刻蝕、離子束沉積；高分辨掃描電鏡功能可對離子束加工試樣進行實時觀測。

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