詳細摘要： MTB系列黑體是用于模擬中等溫度目標的超精密面源黑體，輻射體溫度使用薄型面源加熱元件控制
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時間：2023-12-11 在線留言縫前設(shè)備 縫制設(shè)備 縫制配件 整理設(shè)備 繡花機 內(nèi)衣機械 服裝輔助設(shè)備 洗滌機械 二手服裝機械 其它服裝機械
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詳細摘要： MTB系列黑體是用于模擬中等溫度目標的超精密面源黑體，輻射體溫度使用薄型面源加熱元件控制
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹BLIQ黑體是TCB黑體的特殊版本，當(dāng)黑體工作在20℃的環(huán)境溫度下，溫度范圍可擴展至-40℃
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詳細摘要： NIGHTMET–像增強器模擬軟件，是用于模擬像增強器在采用顯微鏡對于像增強器的一部分在不同的亮度等級下進行分辨率測試過程的模擬，用戶可以對亮度進行調(diào)節(jié)用于模擬...
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詳細摘要： SIMTERM–熱像儀模擬軟件是用軟件來模擬一個給定的熱像儀系統(tǒng)產(chǎn)生的紅外圖像
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詳細摘要： SIMAT外觀圖SIMAT模擬器是一個模塊化的圖像投影系統(tǒng)用于模擬在光視距范圍內(nèi)兩個或者多個可變強度，可變角尺寸，可變光譜，在均勻背景下的的動態(tài)目標
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詳細摘要： MULTIC寬帶多光譜成像儀測試系統(tǒng)是為測試遠距離寬帶多光譜成像儀而開發(fā)的專業(yè)測試系統(tǒng)
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詳細摘要： STR測試系統(tǒng)外形圖STR測試系統(tǒng)是一個面向條紋管的重要參數(shù)測試的多功能的測試系統(tǒng)，包括輻射參數(shù)，空間參數(shù)以及時間參數(shù)
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹：從設(shè)計的角度看，SOL測試系統(tǒng)是一種能夠進行光譜帶寬階躍調(diào)節(jié)、光強連續(xù)調(diào)節(jié)的標定光源，對被測成像探測器和圖像處理系統(tǒng)進行照射，進而分析被測成像探測器（...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹TRAL測試系統(tǒng)外形圖a)輻射配置，b)光譜配置TRAL測試系統(tǒng)原理圖:a)輻射配置，b)光譜配置TRAL紅外探測器通用測試系統(tǒng)用于測量在700nm到1...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹：SIT測試系統(tǒng)是兩個主要模塊的總和：波長和光強連續(xù)可調(diào)的校準光源SITO和IPS圖像處理系統(tǒng)（PC、圖像采集卡、軟件）
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹VIT測試系統(tǒng)外形圖VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統(tǒng)是一個可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統(tǒng)，支...
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詳細摘要： SPOT測試系統(tǒng)的外形圖SPOT中波紅外焦平面陣列空間響應(yīng)測試系統(tǒng)是掃描式光斑投影系統(tǒng)，它將高亮度的極小光斑投射到被測MWIRFPA表面上，同時測量其輸出信號
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹紅外輻照器外形圖紅外輻照器模塊組成圖MIRAD輻照器的設(shè)計思路整合了三個模塊(MTB中溫的黑體，VAB光機輻射衰減器和三個TP透射管），三個模塊組合一起...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹FT測試系統(tǒng)的FT-N配置（噪聲/響應(yīng)參數(shù)的測量）FT測試系統(tǒng)FT-I配置（成像質(zhì)量參數(shù)測量）FT測試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測量）紅外焦平面陣列是...
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詳細摘要： 由于有部分科研項目需要采用非美軍標的方法對像管進行詳細的測量，針對這些科研項目需求Inframet開發(fā)了IRAD測量系統(tǒng)，用于對像增強器的輻亮度和時間響應(yīng)參數(shù)的...
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詳細摘要： THP太赫茲相機測試系統(tǒng)THP太赫茲相機測試系統(tǒng)用于測試被動式太赫茲相機，所使用的測試方法與LAFT熱像儀測試系統(tǒng)一致:一段距離外的參考靶標經(jīng)被測熱像儀成像，分...
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詳細摘要： IPAS測量系統(tǒng)是通用的測試系統(tǒng)，能夠測量二代像管不同電極間的電壓，檢測像管的電源
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詳細摘要： ITR測量系統(tǒng)用于測試像增強器的可靠性參數(shù)：標準可靠性，衰老可靠性，燒傷，亮點保護等參數(shù)
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詳細摘要： ITIP是Inframet設(shè)計生產(chǎn)的用于測試像增強器的測試系統(tǒng)
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