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柯岷國際貿(mào)易（上海）有限公司
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更新時(shí)間：2023-09-28 13:29:35瀏覽次數(shù)：199次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700"的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能，像差校正后的SEM圖像和對稱Dual SDD技術(shù)等特點(diǎn)。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術(shù)。對于包括用戶在內(nèi)的廣泛用戶，我們提供亞?級(jí)空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法。
1.標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器（附自動(dòng)校正功能）
2.搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍
3.鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升
4.觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像
5.采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)以及樣品桿
6.支持高立體角EDX*的對稱配置（對稱Dual SDD*）
7.采用全新構(gòu)造的機(jī)體外殼蓋
8.配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*
*選項(xiàng)
◆ 高輝度冷場FE電子槍×高穩(wěn)定性×日立制球面像差校正器
以長年積累起來的高輝度冷場FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ)，進(jìn)行優(yōu)化，進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。
此外，還更新了鏡體，電源系統(tǒng)和樣品臺(tái)，以支持觀察亞?圖像，并提升了機(jī)械和電氣穩(wěn)定性，然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。
不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭，而且自動(dòng)像差校正功能可以實(shí)現(xiàn)快速校正，從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實(shí)用。
Si（211）單晶體HAADF-STEM圖像（左）和圖像強(qiáng)度曲線分布（右下）、FFT功率譜（右上）
◆ 支持高立體角EDX*的對稱Dual SDD*
支持雙重配置100 mm2 SDD檢測器，以實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進(jìn)行EDX元素分析。
由于第二檢測器位于檢測器的對面位置，因此，幾乎不會(huì)因?yàn)闃悠穬A斜，導(dǎo)致X射線中的信號(hào)檢測量發(fā)生變化。所以，即使是結(jié)晶性樣品，也不用顧忌信號(hào)量，可按照樣品的方向與位置進(jìn)行元素分析。
此外，對于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品，除了原子列映射，在低倍、廣視野的高精細(xì)映射等領(lǐng)域也極為有效。
GaAs（110）的原子柱EDX映射
◆ 像差校正SEM圖像/STEM圖像 同時(shí)觀察
配有標(biāo)配二次電子檢測器，可同時(shí)觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時(shí)觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可以掌握樣品的三維構(gòu)造。
在像差校正SEM圖像中，除了可以通過校正球差來提高分辨率之外，還可以獲取更真實(shí)地樣品表面圖像。
Au/CeO2催化劑的SEM/ADF-/BF-STEM圖像（上段）和Au粒子的高分辨率圖像（下段）
◆ 主要規(guī)格
◆ 機(jī)體尺寸/重量
◆ 安裝條件
購買之前，請?jiān)O(shè)置預(yù)定安裝處測量振動(dòng)、磁場和噪聲，如果超過容許值，請務(wù)必另行咨詢。
關(guān)于容許值，請另行咨詢。
備注*1：選項(xiàng)。*2：Windows是在美國以及其他國家的注冊的美國Microsoft Corp.商標(biāo)。*3：規(guī)格、尺寸均根據(jù)廠家、型號(hào)和配置的不同而會(huì)有所不同。
◆ 布局示例
※使用上述配置(包含維護(hù)工具），整體設(shè)備總重量約為5,000kg。
※請檢查地面強(qiáng)度（kg/m2）＞3×設(shè)備總重量（kg）/占地面積（m2）。
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