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MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光譜儀

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更新時間：2024-01-05 11:44:47瀏覽次數(shù)：109次

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產(chǎn)品簡介

微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)

詳細介紹

微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)。

基于X-熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

應(yīng)用

微焦斑 XRF 光譜儀應(yīng)用于 PCB、半導(dǎo)體和電子行業(yè)

PCB / PWB 表面處理

控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴控的范圍內(nèi)持續(xù)運營，確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。

電力和電子組件的電鍍

零件須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍，以達到預(yù)期的電力、機械及環(huán)境性能。開槽的X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品，可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品，從而達到引線框架（引線框架）、連接器插針、線材和端子的上、中和預(yù)鍍層厚度的控制。

IC 載板

半導(dǎo)體器件越來越小巧而復(fù)雜，需要分析設(shè)備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計為可為客戶所需應(yīng)用提供高準確性分析，及重復(fù)性好的數(shù)據(jù)。

服務(wù)電子制造過程（EMS、ECS）

結(jié)合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個測試點，實現(xiàn)從進廠檢查到生產(chǎn)線流程控制，再到產(chǎn)品質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和產(chǎn)品，確保每個階段的質(zhì)量。

光伏產(chǎn)品

對可再生能源的需求不斷增加，而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性，從而確保效率。

受限材料和高可靠性篩查

與復(fù)雜的供應(yīng)鏈合作，驗證和檢驗從供應(yīng)商處收到的材料至關(guān)重要。使用日立分析儀器的XRF技術(shù)，根據(jù)IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規(guī)要求，確保高可靠性涂鍍層被應(yīng)用于航空和軍事領(lǐng)域。

	X-Strata 920 正比計數(shù)器	MAXXI 6 高分辨率SDD
ENIG	★★☆	★★★
ENEPIG	★★☆	★★★
非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552)	無	★★★
非電鍍鎳厚度	★★☆	★★★
浸鍍銀	★★☆	★★★
浸鍍錫	★★☆	★★★
HASL	★★☆	★★★
無鉛焊料（如 SAC)	★☆☆	★★★
CIGS	無	★★★
CdTe	無	★★★
納米級薄膜分析	無	★★★
多層分析	★★☆	★★★
IEC 62321 RoHS 篩選	無	★★★

微焦斑 XRF 光譜儀應(yīng)用于金屬表面處理

耐腐蝕性

檢驗所用涂層的厚度和化學(xué)性質(zhì)，以確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。

耐磨性

通過確保磨蝕環(huán)境中關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻度，預(yù)防產(chǎn)品故障。復(fù)雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。

裝飾性表面

當目標是實現(xiàn)無瑕表面時，整個生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制至關(guān)重要。通過日立分析儀器的多種測試設(shè)備，您可以可靠地檢測基材，中間層和頂層厚度。

耐高溫

在條件下進行的零件的表面處理須被控制在嚴格公差范圍內(nèi)。確保符合涂鍍層規(guī)格、避免產(chǎn)品召回和潛在的災(zāi)難性故障。

	X-Strata 920 正比計數(shù)器	MAXXI 6 高分辨率SDD
Zn / Fe, Fe 合金 Cr / Fe, Fe 合金 Ni / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★
ZnNi / Fe, Fe 合金 ZnSn / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★
NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al	★★☆ (僅厚度)	★★★ (厚度和成分)
Ag / Cu Sn / Cu	★★☆	★★★
Cr / Ni / Cu / ABS	★★☆	★★★
Au / Pd / Ni /CuZn	★★☆	★★★
WC / Fe, Fe 合金 TiN / Fe, Fe 合金	★★☆	★★★
納米級薄膜分析	無	★★★
多層分析	★★☆	★★★
IEC 62321 RoHS 篩選	無	★★★

型號

憑借較高的分辨率和效率 SDD，MAXXI 6 是測量薄涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達6個主濾波器和8個準直器，能夠處理具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。巨大的開槽室設(shè)計是小、大或長樣本的理想選擇。優(yōu)化的硬件配置可以直接分析化學(xué)鍍鎳應(yīng)用中的%P。

X-Strata920 可被配置為三個不同的樣品臺配置，以應(yīng)對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個可移動托盤，可快速被配置，以搭配小或大零件（6英寸）。電動X-Y臺可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。

X-Strata 920