詳細摘要： 關鍵特征：·高精度5軸機械系統(tǒng)·320kV/450kV/600kV反高功率小焦點射線源·的雙探測器設計
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2024-08-13 在線留言上海恩迪檢測控制技術有限公司
上海恩迪檢測控制技術有限公司
詳細摘要： 關鍵特征：·高精度5軸機械系統(tǒng)·320kV/450kV/600kV反高功率小焦點射線源·的雙探測器設計
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詳細摘要： 關鍵特征：·高精度8軸機械系統(tǒng)·450kV/600kV高功率小焦點射線源·額外的225kV/240kV/300kV微米焦點射線源·的雙射線源、雙探測器設計·可同...
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詳細摘要： 根據(jù)檢測范圍不同
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詳細摘要： 單色光掃描系統(tǒng)和固定式多色光勞厄分析系統(tǒng)，用于單晶材料、硅圓、晶錠、渦輪葉片和太陽能光板等的定向分析和檢測，可集成到產(chǎn)線和質量控制流程
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詳細摘要： ·大檢測范圍，大角度范圍，高精度檢測·粉末、織構、應力和殘余奧氏體分析·可選工件轉換裝置和外部預定位系統(tǒng)·快速實時檢測，包括1D和2D檢測·可選掠入式射束、反射...
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詳細摘要： 除了X射線衍射系統(tǒng)，我們也提供用于SEIFERTorGE-SEIFERT射線衍射系統(tǒng)的各種部件
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詳細摘要： 關鍵特征：·便攜式平板探測器·可選便攜式射線機·支持遠程控制便攜式DR檢測系統(tǒng)射線管類型便攜式射線機/固定式射線機管電壓便攜式射線機：160kV/200kV/3...
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詳細摘要： 關鍵特征：·可選190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率納米焦點射線源·JIMA卡空間分辨率測試可達0.5微米·支持多種平板探測器
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詳細摘要： 關鍵特征：·190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦點射線源·JIMA卡空間分辨率測試可達2微米·支持多種平板探測器
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詳細摘要： 關鍵特征：·可選160kV/225kV/320kV/450kV/600kV高功率射線機·最小焦點可達0.4mm·支持多種平板探測器
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2024-08-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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