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PALS正電子湮沒壽命譜儀

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產(chǎn)品簡介

PALS正電子湮沒壽命譜儀隨著對(duì)正電子和正電子素及其與物質(zhì)相互作用特性的深入了解，使正電子湮沒技術(shù)在原子物理、分子物理、固態(tài)物理、表面物理、化學(xué)及生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，并取得的研究成果

詳細(xì)介紹

PALS正電子湮沒壽命譜儀
隨著對(duì)正電子和正電子素及其與物質(zhì)相互作用特性的深入了解，使正電子湮沒技術(shù)在原子物理、分子物理、固態(tài)物理、表面物理、化學(xué)及生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，并取得的研究成果。它在諸如檢驗(yàn)量子電動(dòng)力學(xué)基本理論、研究弱相互作用、基本對(duì)稱性及天體物理等基礎(chǔ)科學(xué)中也發(fā)揮了重要作用。同時(shí)，隨著人們對(duì)正電子湮沒技術(shù)方法學(xué)上研究的深入進(jìn)展，使這一門引人注目的新興課題得到更快的發(fā)展。

實(shí)驗(yàn)用放射源²²Na，該源發(fā)生衰變放出一個(gè)正電子后幾乎同時(shí)（僅遲3 ps左右）還發(fā)射一個(gè)能量為1.28 MeV的光子。因此，測量1.28 MeV的光子與正電子湮沒后放出的光子（0.511 MeV）之間的時(shí)間間隔，就可得到正電子壽命。對(duì)每個(gè)湮沒事件都可測得湮沒過程所需時(shí)間。對(duì)足夠多的湮沒事件（~10⁶個(gè)）進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，就可得到一個(gè)正電子湮沒壽命譜。

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