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鉑悅儀器（上海）有限公司
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閱讀：28發(fā)布時(shí)間：2024-11-7
尊敬的客戶：
您好，非常感謝您長(zhǎng)期以來(lái)對(duì)我們的支持！鉑悅儀器將出席FPD&SEMICON China 2020，在這一年一度的半導(dǎo)體行業(yè)盛會(huì)上，我們將展示新的產(chǎn)品及前沿的技術(shù)，并期待與業(yè)界專家交流市場(chǎng)商機(jī)，洽談合作機(jī)會(huì)。
在此，誠(chéng)摯邀請(qǐng)您蒞臨我們的展位！
會(huì)議時(shí)間：2020年6月27日-29日
會(huì)議地點(diǎn)：上海新國(guó)際博覽中心
鉑悅儀器（上海）有限公司
2020年6月
鉑悅展位：E1150
展示產(chǎn)品
德國(guó)布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）
德國(guó)布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5Å。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量，通過(guò)在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡(jiǎn)易，檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
光學(xué)輪廓儀Contour GT
用于工藝質(zhì)量監(jiān)控定標(biāo)性測(cè)試系統(tǒng)ContourGT-X是實(shí)驗(yàn)室開(kāi)發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。它積累了在白光干涉技術(shù)上的創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了快速地三維表面測(cè)量，從納米級(jí)粗糙度表面的測(cè)量到毫米級(jí)臺(tái)階的測(cè)量，垂直分辨率可達(dá)亞納米級(jí)?？删幊痰腦YZ控制的掃描頭自動(dòng)控制，使得儀器操作簡(jiǎn)便易行。配備新的Vision64軟件，具有業(yè)界強(qiáng)的儀器測(cè)量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設(shè)計(jì)的用戶界面為使用者自行定義自動(dòng)測(cè)量和數(shù)據(jù)分析提供了大的便利。
原子力顯微鏡Dimension FastScan Icon
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• 高分辨率成像
• 完整的納米尺度定量信息
• 潛力無(wú)限 – 靈活，開(kāi)放
• 超乎想象的簡(jiǎn)單
X射線透工業(yè)CT-EasyTom S
3D X射線微計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)
性能 · 微聚焦發(fā)生器：CT分辨率：2μm
· 檢測(cè)器：快掃描速度：6秒。
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