PCT高壓加速老化試驗機廣泛用于IC、半導體、PCB線路板、光伏組件等行業(yè)，通過環(huán)境應力（溫濕度、壓力）與工作應力加速老化試驗過程縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。

詳細介紹

| 產品介紹

PCT老化試驗箱非飽和

APCT系列

突出特點：

不銹鋼圓型內箱結構，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中結露滴水設計；采用抽屜式大容量水箱,試驗時間長,并易拆卸清洗；蒸發(fā)器采用水浸查漏方法，查漏，確保設備穩(wěn)定運行；采用觸摸屏控制器，多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示；采用觸摸屏控制器；蒸發(fā)器采用水浸查漏方法，查漏，確保設備穩(wěn)定運行；搭載進口控制系統(tǒng)微電腦 P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度，帶有水位不足時提供警示功。

合作案例

技術參數

型號		APCT -
		25A	30A	40B	50B	25C	30C
控制器		中英文顯示，具有USB，R-232C接口，RS-485通信功能，數據曲線下載控制精度：溫度：0.1℃，濕度：0.1%RH，壓力：0.1kg/cm2
性能	溫度范圍	105℃～132℃		105℃～142.9℃		105℃～155℃
	濕度范圍	65%RH～99%RH（可調）
	溫濕波動度	非飽和控制：±0.5℃/±2.5%RH；濕潤飽和控制：±0.5℃/99%RH
	溫濕均勻度	±0.5℃/±5.0%RH
	壓力范圍	表壓力+0.2～2.0kg/cm2		表壓力+0.2～3.0kg/cm2		表壓力+0.2～3.5kg/cm2
	加壓時間	大約45分鐘		大約50分鐘		大約55分鐘
	偏壓端子	無		標配8條（8～55條可選），交直流125V 1A
	氣源增壓	有外接氣源		有外接氣源		有外接氣源
	循環(huán)方式	風葉強制對流循環(huán)
標稱內容積		17L	31L	69L	117L	17L	31L
內箱尺寸（直徑x深）cm		Φ25xD35	Φ30xD45	Φ40xD55	Φ50xD60	Φ25xD35	Φ30xD45

外箱尺寸（寬x深x高）cm		56	66	76	86	56	66
		105	125	135	145	105	125
		65	105	115	135	65	105
材質	內箱	SUS316#不銹鋼
	外箱	冷軋鋼板靜電噴涂
	保溫	*
	密封	進口硅膠密封條
試樣架		試樣架隔板（標配2套），可定制專用試樣架
控制面板		控制器、電源開關鍵、工序顯示燈、報警燈、機械壓力表、手動緊急泄壓閥、USB接口、R-485接口
壓力容器		加熱器、加濕器、溫度傳感器、試樣信號端子、對流風扇、對流風扇電動機、防過熱/干燒檢測端子
供水方式		自動供水
安全保護		試驗時全程檢測超溫超壓保護，階段儀表內部超高溫保護；第二階段儀表內部加濕器缺水保護，高壓力保護，水箱缺水報警斷電，第二階段超高壓保護；第三階段緊急泄壓保護，手動泄壓保護，自動泄壓等