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45MG超聲波測厚儀

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產(chǎn)品簡介

簡單介紹美國泛美Panametrics-NDT45MG超聲波測厚儀是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀

詳細介紹

簡單介紹

美國泛美Panametrics-NDT 45MG 超聲波測厚儀是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應用。

45MG 超聲測厚儀

的詳細介紹

美國泛美Panametrics-NDT 45MG 超聲波測厚儀

使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量
使用單晶探頭對工件進行精確測量

標準功能

45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過最基本的培訓，就可完成的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。

與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量
最小值/值模式
兩個報警模式
差值模式
時基B掃描
縮減率
增益調(diào)整（標準、高、低）
密碼式儀器鎖定

帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器

可選功能

只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領域中用途廣泛的測厚儀行列。

回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應用中限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲參數(shù)。

抵御惡劣環(huán)境的能力

堅固耐用，設計符合IP67標準。
爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
寬泛的操作溫度范圍
可選的帶有支架的橡膠保護套

室內(nèi)顯示設置，可選A掃描模式

簡便操作的設計理念

可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
USB通訊端口
可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
默認或自定義單晶探頭設置（可選）
密碼保護方式的儀器鎖定
彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設置，具有清晰度高

室外顯示設置，可選A掃描模式

測量
雙晶探頭測量模式	從激勵脈沖后的精確延遲到個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波（可選）	在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量（可選）	利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測量模式（可選）	模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。模式2：延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）模式3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍	0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍	0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇）	低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸）單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍	標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般規(guī)格
操作溫度范圍	-10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
鍵盤	密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼	防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚）	總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量	430.9克
電源	3節(jié)AA電池/USB電源供應
電池工作時間	3節(jié)AA堿性電池：20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時
標準	設計符合EN15317標準

顯示
彩色透反QVGA顯示	液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波	全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）

輸入/輸出
USB	2.0從接口
存儲卡	容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器	45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量	475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼	32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu)	6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結(jié)構(gòu)
報告	機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和最小值/值