產(chǎn)品展示
CMI165面銅膜厚儀測(cè)厚儀
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說明】
深圳市方源儀器有限公司提供的這款多用途的面銅膜厚儀測(cè)厚儀配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性,即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。它可測(cè)試高/低溫的PCB銅箔,專為PCB銅箔制造商設(shè)計(jì)。
面銅膜厚儀測(cè)厚儀
深圳市方源儀器有限公司提供的這款多用途的面銅膜厚儀測(cè)厚儀配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性,即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。它可測(cè)試高/低溫的PCB銅箔,專為PCB銅箔制造商設(shè)計(jì)。
面銅膜厚儀測(cè)厚儀儀器配置:
CMI165主機(jī)、SRP-T1探頭、NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片。
面銅膜厚儀測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn):
●耗損的SRP-T1探頭可自行更換,
●儀器具有照明功能方便測(cè)量時(shí)定位,
●SRP-T1探頭具有透明保護(hù)罩防止探針損壞和測(cè)量時(shí)定位,
●儀器具有溫度補(bǔ)償功能,測(cè)量結(jié)果不受溫度影響;即使剛從電鍍槽中取出的PCB也可即時(shí)測(cè)量,
●儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn),現(xiàn)場(chǎng)無需校正,
●使用普通AA電池供電,一定時(shí)間不操作自動(dòng)關(guān)閉儀器,
●測(cè)試數(shù)據(jù)通過USB2.0和特定軟件實(shí)現(xiàn)高速傳輸至電腦,可保存為Excel文件(選配功能)。
面銅膜厚儀測(cè)厚儀工作原理:
應(yīng)用*的微電阻測(cè)試技術(shù),符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負(fù)極;測(cè)量時(shí),電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。
其他與面銅膜厚儀測(cè)厚儀同品牌產(chǎn)品:
原裝英國(guó)牛津膜厚儀CMI165面銅測(cè)厚儀
方源儀器批發(fā)供應(yīng)面銅膜厚儀
Oxford膜厚儀CMI95M銅箔測(cè)厚儀
便攜式銅箔膜厚儀CMI95M
ETP探頭孔銅膜厚儀CMI511價(jià)格
深圳上海供應(yīng)CMI511孔銅測(cè)厚儀膜厚儀
英國(guó)牛津儀器Oxford孔內(nèi)鍍銅膜厚儀
牛津儀器孔內(nèi)鍍銅測(cè)厚儀膜厚儀
面銅膜厚儀CMI563產(chǎn)品介紹
CMI563面銅厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀
深圳方源臺(tái)式CMI760線路板PCB行業(yè)膜厚儀測(cè)厚儀
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新型牛津鍍層膜厚儀CMI243
CMI243高精度媲美X射線測(cè)厚儀膜厚儀
深圳方源儀器Oxford CMI233膜厚儀測(cè)厚儀
專業(yè)測(cè)試各種涂鍍層膜厚計(jì)膜厚儀測(cè)厚儀CMI233
噴漆膜厚儀漆膜測(cè)厚儀CMI250
膜厚儀牛津測(cè)厚儀CMI250
中國(guó)代理商:深圳市方源儀器有限公司
地址:深圳市南山區(qū)登良路62號(hào)南園綜合樓5樓 地址:上海市閔行區(qū)申濱路1051弄140號(hào)1101室
電話: 電話:
: : fyyq@ : : fyyq@
面銅膜厚儀測(cè)厚儀
深圳市方源儀器有限公司提供的這款多用途的面銅膜厚儀測(cè)厚儀配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性,即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。它可測(cè)試高/低溫的PCB銅箔,專為PCB銅箔制造商設(shè)計(jì)。
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CMI165主機(jī)、SRP-T1探頭、NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片。
面銅膜厚儀測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn):
●耗損的SRP-T1探頭可自行更換,
●儀器具有照明功能方便測(cè)量時(shí)定位,
●SRP-T1探頭具有透明保護(hù)罩防止探針損壞和測(cè)量時(shí)定位,
●儀器具有溫度補(bǔ)償功能,測(cè)量結(jié)果不受溫度影響;即使剛從電鍍槽中取出的PCB也可即時(shí)測(cè)量,
●儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn),現(xiàn)場(chǎng)無需校正,
●使用普通AA電池供電,一定時(shí)間不操作自動(dòng)關(guān)閉儀器,
●測(cè)試數(shù)據(jù)通過USB2.0和特定軟件實(shí)現(xiàn)高速傳輸至電腦,可保存為Excel文件(選配功能)。
面銅膜厚儀測(cè)厚儀工作原理:
應(yīng)用*的微電阻測(cè)試技術(shù),符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1探頭由四支探針組成,AB為正極CD為負(fù)極;測(cè)量時(shí),電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻,通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚,不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。

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