2025-03-26 11:39:5837
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 產(chǎn)品型號:
- 廠商性質(zhì):其他
- 品牌:
- 所在地區(qū):上海
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在線詢價圖片描述：
1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測量面、工作面的平面度。亦用于檢定高精
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