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南京赫冠科學(xué)儀器有限公司
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傅立葉變換紅外顯微鏡
的 FPA 成像性能
高清光譜和視覺數(shù)據(jù)
創(chuàng)新的校準(zhǔn)技術(shù) PermaSure+
超快成像數(shù)據(jù)采集
巨大視野和高達(dá)亞微米級(jí)別的視覺分辨率
ATR、透射和反射模式下的焦平面陣列（FPA）成像
標(biāo)準(zhǔn) TE-MCT 檢測器可在無液氮的情況下提供高靈敏度！
軟件引導(dǎo)的測量支持初學(xué)者和專業(yè)用戶
放置樣品輕松：允許樣品厚度達(dá)40毫米
全電動(dòng)化和自動(dòng)化的硬件
符合cGMP/GLP、USP、ChP、JP、Ph.Eur. 和聯(lián)邦法規(guī) 21 章第 11 款 (21 CFR p11)
自動(dòng) OQ/PQ/藥典測試
如果應(yīng)用需求發(fā)生變化，可隨時(shí)升級(jí)系統(tǒng)
我們相信并努力做到，向所有用戶提供的技術(shù)。繁瑣的硬件和軟件操作不應(yīng)該成為限制FTIR顯微和成像技術(shù)巨大優(yōu)勢(shì)的因素。
我們稱之為真正的 FPA 成像。為什么？
因?yàn)?LUMOS II 通過使 FTIR 成像更快、更容易、更準(zhǔn)確、更可靠甚至更有趣來提升 FTIR 成像品質(zhì)。
為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)，我們專門為用戶量身定制了 LUMOS II、軟件和用戶界面。初學(xué)者也可以立即獲得的測試結(jié)果，專家則可以利用LUMOS II的無限潛能。
LUMOS II 在透射和反射測量中的出色結(jié)果是顯而易見的。此外，一個(gè)值得注意的亮點(diǎn)是衰減全反射 (ATR) 的測量。
簡而言之，LUMOS II ATR模式下的性能是的。不要滿足于不可靠的、手動(dòng)的 ATR 配件 — 要獲得。要擁有 LUMOS。
可伸縮的晶體由高精度壓電電機(jī)控制并被集成到透鏡中。這使您可以清楚地看到樣品，并在您選定的位置進(jìn)行精確測量。
標(biāo)準(zhǔn) TE-MCT 檢測器
無需液氮
無需吹掃
低功耗
抗高濕度（ZnSe 光學(xué)元件）
包括激光在內(nèi)的元件壽命長
占用空間小
顯微鏡中的
帶集成壓力傳感器的電動(dòng)ATR晶體
ATR模式下的FPA成像
在ATR、透射和反射模式之間快速切換
高精度樣品臺(tái)
自動(dòng)測量
LUMOS II 是一款易于使用的獨(dú)立式 FTIR 顯微鏡，在任何測量模式下均具有性能。無論是透射、反射還是衰減全反射 (ATR)，LUMOS II 始終是正確的選擇。
但它的優(yōu)勢(shì)是 ATR 顯微技術(shù)。
FTIR 顯微技術(shù)中 ATR 的適用性令人驚奇，結(jié)合FPA 成像可以進(jìn)一步增強(qiáng)它的適用性。這使得 LUMOS II 成為故障分析和產(chǎn)品開發(fā)的常用工具。
誠然，每種技術(shù)都有其優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。在 FTIR 顯微技術(shù)中，透射和反射面臨著類似的限制因素限制其適用性。
相比之下，ATR 在無需樣品制備的情況下，幾乎可為任何樣品類型提供高品質(zhì)的 FTIR 數(shù)據(jù)。此外，它還提供高空間分辨率。
與透射和反射測量相比，在ATR中，鍺晶體充當(dāng)固體浸沒透鏡，將空間分辨率提高 4 倍。這樣，您可以輕松分析小至幾微米的樣品。
在透射中，樣品必須足夠薄以使紅外輻射穿透。對(duì)于大多數(shù)樣品，這需要耗時(shí)的樣品制備，例如使用精細(xì)切片機(jī)切片。
如果要檢測小纖維或微粒，必須使用昂貴的紅外透明的濾膜和壓片單元。
在反射中，樣品需具備光滑的、拋光的紅外反射表面，或者放在鋁鏡或金鏡上。在后一種情況下，樣品也必須非常薄才能有足夠的紅外線通過，從而獲得合適的紅外光譜。此外，反射光譜通常需要特殊的數(shù)據(jù)處理以進(jìn)行評(píng)估。
對(duì)我們來說，向客戶交付技術(shù)是理所應(yīng)當(dāng)?shù)氖?。這也適用于 LUMOS II。
RockSolidTM 干涉儀可確保恒定的性能，而現(xiàn)代電子設(shè)備可確保機(jī)械精度和低能耗。同時(shí)，軟件可監(jiān)控儀器的有效性并始終確保正確的功能。
FTIR 成像的應(yīng)用非常多樣。上面的例子概述了 ATR-FTIR 顯微技術(shù)的實(shí)用性。無論是產(chǎn)品開發(fā)、故障分析還是識(shí)別古代壁畫的成分 — LUMOS II 都能從容高效地完成這一切。
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