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K-600便攜式礦石分析儀

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深圳市美程精密電子有限公司

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K-600便攜式礦石分析儀非常堅(jiān)固耐用，可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求的應(yīng)用

詳細(xì)介紹

K-600便攜式礦石分析儀非常堅(jiān)固耐用，可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求的應(yīng)用。符合IP 65*評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵防水的性能，通過(guò)了防墜落測(cè)試，可以在-10 °C到80 °C的溫度范圍內(nèi)可以正常工作?？七~斯KMX k-600分析儀可進(jìn)行快速精確的元素分析。每臺(tái)設(shè)備都應(yīng)用了科邁斯新開發(fā)的KMX技術(shù)，這種技術(shù)是XRF信號(hào)處理方面的一項(xiàng)革新，可提供精確無(wú)誤、重復(fù)性的結(jié)果，從而使用戶獲得更高的生產(chǎn)力，并快速得到投資回報(bào)。

K-600手持式礦石分析儀
秉承科邁斯多年的X熒光光譜儀(手持式光譜儀)研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，KMX全新一代手持XRF礦石分析儀——K-600再次帶來(lái)了一場(chǎng)分析領(lǐng)域的革命。K-600引入數(shù)字多道技術(shù)，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣，性能媲美臺(tái)式機(jī)；小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質(zhì)礦樣多元素檢測(cè)和分析、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用，使探礦工作更為簡(jiǎn)單、輕松。

地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
檢測(cè)元素：標(biāo)準(zhǔn)配置可檢測(cè)30多種元素，同時(shí)可按客戶需求增加檢測(cè)元素
專業(yè)性：礦石專用版分析軟件，采用智能一鍵測(cè)試
*個(gè)性化定制工作模式
多種礦樣模式選擇和無(wú)限數(shù)目模式的自由添加，根據(jù)客戶需求定制工作模式。

*準(zhǔn)確界定礦山邊界
內(nèi)置GPS功能，在野外可隨時(shí)搜索衛(wèi)星信號(hào)，在測(cè)試時(shí)可隨時(shí)記錄測(cè)量的經(jīng)緯度、海拔高度，確定取樣點(diǎn)的地理位置信息，并隨測(cè)試報(bào)告同時(shí)保存。
*獲得的坐標(biāo)分析數(shù)據(jù)可繪制成礦山礦石分布圖，從而快速普查大范圍礦區(qū)，準(zhǔn)確掌握礦脈走向，界定礦山邊界，做到優(yōu)先開采富礦區(qū)，大大提高生產(chǎn)效率。
*內(nèi)置藍(lán)牙功能，配置藍(lán)牙打印機(jī)后，可實(shí)現(xiàn)重點(diǎn)礦區(qū)原位測(cè)試的“邊測(cè)邊打"功能。
*充分挖掘礦山價(jià)值
高清攝像頭，可對(duì)被檢測(cè)的礦脈或礦點(diǎn)部位進(jìn)行更直觀的觀察，并對(duì)開采過(guò)程進(jìn)行精確管理和控制，隨時(shí)檢測(cè)礦石品位。
*對(duì)選礦過(guò)程中原礦、精礦和尾礦等進(jìn)行精確快速分析，為礦石品位的測(cè)定、礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價(jià)值判定依據(jù)。

*環(huán)境監(jiān)控
對(duì)開采礦山周圍土壤中的重金屬進(jìn)行監(jiān)測(cè)和檢測(cè)，評(píng)估礦山環(huán)境的修復(fù)情況，限度的監(jiān)測(cè)好礦山周邊的環(huán)境。

主要用途：

手持式礦石分析儀，用于礦業(yè)、地質(zhì)、土壤環(huán)境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測(cè)定。

1.主要配置要求:

1.1 礦石分析儀主機(jī)1套；

1.2 標(biāo)準(zhǔn)樣品1個(gè)；

1.3 原裝可充電鋰電池2塊；

1.4 充電座及電源線；

1.5 USB數(shù)據(jù)線1根；

1.6 U盤(8G)1個(gè)；

1.7 加強(qiáng)型聚丙烯膜5片；

1.8 標(biāo)準(zhǔn)手提防潮防震箱一只。

技術(shù)參數(shù)及要求

1、檢測(cè)元素：可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素，Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。（紅色為SDD探測(cè)器配置）

2、探測(cè)器：美國(guó)Moxtek Si-pin（6 mm2）、美國(guó)Amptek Si-pin（25 mm2）、德國(guó)KETEK SDD探測(cè)器

3、激發(fā)源：大功率微型直板X射線管，W靶材，4W大功率X射線管，管電壓50KV，管電流可達(dá)100μA；

4、采用KMX技術(shù)，更高X射線計(jì)數(shù)率，超低電子噪聲設(shè)計(jì)。每次測(cè)試前，不需要外部標(biāo)樣，自動(dòng)能量校準(zhǔn)核查；

5、濾光片：配置8個(gè)濾光片，可根據(jù)測(cè)試元素自動(dòng)切換；

6、測(cè)試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法修正

7、點(diǎn)觸或扣動(dòng)扳機(jī)控制測(cè)試開始，測(cè)試過(guò)程無(wú)需長(zhǎng)扣扳機(jī)。根據(jù)客戶需求，也可以一直按著扳機(jī)測(cè)試樣品。

8、操作系統(tǒng)：Window CE 6.0操作系統(tǒng)，安全、放心

9、自診斷功能：儀器可自動(dòng)對(duì)硬件、軟件、網(wǎng)絡(luò)、電池等進(jìn)行診斷，并會(huì)生成日志，便于快速排查出故障

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